蛍光体および電子源の特性評価

電界電子放出閾値、I-V特性、電流密度、発光輝度、蛍光面チャージアップ、電子源劣化等、お客様個々のご要望に合わせた評価試験をご提供いたします。
評価試験の実例を用いた説明のページはこちらをご覧ください。

　　　　冷陰極電子源のI-V特性　　　　　　　　　電子線励起された蛍光膜の発光輝度評価
穴あけ＋銀パターン

冷陰極電子源や蛍光体印刷基板など、各種真空素子の評価試験に弊社所有の評価装置をご利用いただけます。

試験装置	卓上真空装置
	電子源評価用電源装置（陽極電源、ゲート電源）高圧電源装置（～10kV）、ゲート電源（～5kV）直流安定化電源装置（250V、200mA）直流安定化電源装置（8V、10A）
	マイクロ電流計（カソード電流計測）
	輝度計
試験用部材	SUS、Ni、42Ni、ガラス基材、セラミック等の真空用部品を各種取り揃えています。
試験項目	電界電子放出閾値、I-V特性、電流密度、発光輝度、蛍光面チャージアップ、電子源劣化、等の評価・計測
立会試験	部品組立から評価試験に至るまで、ご希望によりお客様の立会い可能です。
評価対象電子源	Spindt、CNT、CNW、金属酸化物ウィスカー、金属ナノ素子など...評価ご希望の電子源を弊社へお持込ください。
電極部品	金属部品、セラミック、マイカ等、評価に必要な各種真空対応部品の設計及び製作を賜ります。弊社で在庫する標準部品を使用して、評価試験を実施することも可能です。
サンプル発光管製作	評価終了後、排気管を用いたチップオフ又はフリット接着による真空封止を行い、冷陰極発光管の試作品を製作致します。

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真空接合、真空封着、真空封止、真空乾燥、卓上真空装置、真空関連装置と部品の設計試作、ITOガラス加工、蛍光体印刷・成膜のシィアイテクノ